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        ChipMaster手持数字集成电路测试仪资料下载

        来源: 作者: 时间:2011-05-04 Tag:集成电路测试仪   点击:
         


        ChipMaster手持式模拟集成电路测试仪资料下载 

         

        循环测试-判定间歇性故障元器件更准确

            采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息. 
         
        简介: 
         
            可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.
         
        特点:

        ·操作简单方便
        ·内置元器件库可扩充升级
        ·未知IC型号查找
        ·显示单个管脚故障诊断信息
        ·元件代换查询
        ·可选SOIC和PLCC适配座
        ·可选编程软件与PC实时通讯测试
        ·电池与直流供电
        ·可以选择不同封装的测试座
         
        功能:

        Single-对测试座上的IC进行单次测试.
        Loop-无论结果如何,重复进行测试
        P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试
        F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试
        Search-识别测试座上IC的型号
        Diags-进行自我诊断测试
        CmLink-进入CompactLink 软件通讯模式
        Sw Off-将本仪器关机 
         
        专业的CompactLink编程通讯软件(选配件):

        可以扩充元件库的编程软件;
        与PC实时通讯测试软件;
        允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;
        软件采用PremierLink IC编程(PLIP);
        高水平的测试编程描述语言;
        最佳的模拟和数字测试程序;
        可通过RS-232或者USB接口连接电脑;
        本软件适合于ChipMaster和LinearMaster;


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