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        AT256 A4集成电路测试仪
        • 产品型号: AT256 A4
        • 产品品牌: 英国abi
        • 参考价格: 0
        产品简介:

        二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路
        二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)
        三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)

        功能用途:

        1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;
        2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
        3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;
        4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;
        5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;
        6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;
        7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;
        8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

        技术规格:

        1)256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道;
        2)64/128/192/256路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道;
        3)64/128/192/256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;
        4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;
        5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;
        6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;
        7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;
        8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;
        9)设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道。

        测试原理(V-I曲线测试): 

           对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率?筛菪枰械髡员愕玫阶既返男畔。

        集成电路测试操作如此简单: 

        1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
        2.将集成电路插入测试座.
        3.执行测试
        4.得到PASS或FAIL的测试结果.

        不需要电子专业知识.
        适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.
        灵活、好安装、宜操作.
        测试结果直接: PASS或FAIL.
        软件可设定各种测试条件.
        可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

        英国ABI-AT256 A4全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件: 

        -双列插脚(DIL)
        -小型封装集成集成电路(SOIC)
        -小型封装(SSOP, TSOP)
        -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
        -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
        -球门阵列封装(BGA)
        注意: AT256 A4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。

        三维立体V-I-F动态阻抗端口测试 



        AT256 A4测试报告

        AT256 A4集成电路测试仪


        二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路
        二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)
        三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)
         

        北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心)提供:
         

        集成电路测试仪,集成电路筛选测试仪,元器件筛选测试仪,元器件检测仪,三维立体动态阻抗测试仪的使用技术培训服务,测试程序开发编译服务.

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