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        SWA512大规模集成电路筛选测试仪
        • 产品型号: SWA512
        • 产品品牌: 英国ABI
        • 参考价格: 0
        产品简介:

        512通道

         

        器件测试图例:

         


         
        集成电路测试截图:

         


         


        可以放大观看单个管脚PIN

         

        测试通道:

        二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路
        二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路
        三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路
        设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道

        功能用途:

        1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;
        2)可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试;
        3)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
        4)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;
        5)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;
        6)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;
        7)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;
        8)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;
        9)专业操作管理平台:可根据需求编辑测试流程程序,完成自定义化测试,软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程,使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。

        技术规格:

        二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路
        二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路
        三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路
        设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道
        实时探笔对比测试通道:4路
        同步脉冲信号:4路
        测试电压范围:2V ~ 50Vp-p;
        显示图形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;
        信号电流范围:1μA to 150mA
        测试阻抗范围:100Ω ~ 1MΩ;
        三维立体V-I-F测量方式:扫频;
        同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;
        同步信号振幅:可调式由 +10 V ~- 10V;

        主要优势:

        1)提供软件开发平台,兼容其他厂商测试设备;
        2)特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲);可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试?刹馐匀纹诩淇厥奔涮匦。
        3)动态阻抗分析功能,可以对三维图形进行参数的测量;
        4)变频或扫频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。
        5)非加电条件下静态诊断集成电路, 不必外加电源即可进行测试。测试更安全:矩阵式扫频测试,脉冲输出进行的动态V/T测试。
        以上参数指标仅供参考,用户购买产品前请与我公司销售人员核实具体参数指标。
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